SPARC Compact是一款具有滤色功能的高端阴极发光强度检测器。易于集成到SEM中的SPARC Compact是一种非常可靠的显微解决方案,用以洞悉有关晶体生长分区,置换,变形,物源,地质样品中微量元素的存在以及半导体中缺陷结构等过程。
SPARC Compact的系统高度模块化,这意味着它可以随着您的研究的发展和向前进行升级和增强。同时,我们Delmic的团队也跟这款系统一样将随时为您提供支持,并确保您获得高质量研究结果并离您的目标更进一步。
揭示物质基本性质的阴极发光解决方案
全自动一体化的冷冻电镜解决方案,解锁冷冻电子断层扫描的无限可能。
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集成了荧光和电子显微镜功能于一体的关联显微镜解决方案
SPARC Compact是一款具有滤色功能的高端阴极发光强度检测器。易于集成到SEM中的SPARC Compact是一种非常可靠的显微解决方案,用以洞悉有关晶体生长分区,置换,变形,物源,地质样品中微量元素的存在以及半导体中缺陷结构等过程。
SPARC Compact的系统高度模块化,这意味着它可以随着您的研究的发展和向前进行升级和增强。同时,我们Delmic的团队也跟这款系统一样将随时为您提供支持,并确保您获得高质量研究结果并离您的目标更进一步。
SPARC Compact是一种可以直接使用的阴极发光系统,仅需几个简单步骤就能清晰洞悉您的样本。我们借助阴极发光成像的强大功能,帮您不断拓宽研究范围。
SPARC Compact的系统可以毫不费力地与您选择的扫描电子显微镜集成在一起。电动伸缩镜台使系统轻松与BSE和EDS等其他扫描电子显微镜检测方式兼容。系统的安装将由Delmic经验丰富的工程师来完成,他们会为您解释并展示系统的工作流程与功能,以确保您获得最高质量的结构组成和发光特性方面的信息。
Delmic提供的开源性免费软件ODEMIS旨在对数据进行可视化(作为伪RGB图像),它可以轻松将强度数据与SEM图像叠加。通过将数据导出到MATLAB,Python,Origin或Excel等软件或成像处理软件,您可以对数据进行进一步分析。
如果您的研究领域是地质学和材料科学,SPARC Compact将是一款完美的工具。它能够洞悉有关晶体生长分区,置换,变形,物源,地质样品中微量元素的存在以及半导体中缺陷结构等复杂过程。
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