FAST-EM: 提速百倍的多束自动电子显微镜

为了实现高通量成像，FAST-EM使用64束独立电子束。这些光束在样品上并行扫描，并使用高速、高灵敏的硅光电倍增管（SiPM）阵列记录光信号。这种方法可以显着提高数据采集速度。

FAST-EM系统基于扫描透射电子显微镜（STEM），将样品直接放在闪烁屏上，使用STEM模式进行成像。闪烁体在受到透过样品的电子撞击时会产生局域阴极发光，利用高速高灵敏硅光电倍增管（SiPM）阵列检测所得的光，并对其进行处理获得最终的灰度图像。即使在短至400 ns的驻留时间，独特的检测系统能获得优异的信噪比。

使用强大的自动化功能和人性化原生软件，您可实现轻松创建和管理FAST-EM成像项目。

可靠的显微系统和强大的自动化软件的应用，操作员再也无需对电镜保姆式的照管，系统可自动持续可靠运行。

在电镜的工作流程中，主要消耗的辅助时间主要是样品的更换。这意味着操作员必须经常中断成像过程， 更换样品，等待真空度到达工作状态，造成过多等待时间。 FAST-EM允许同时装载多达九个基板，每个基板可容纳数十个甚至数百个超薄切片。一次装样，轻松实现长达72小时的连续成像。