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Delmic 阴极发光解决方案由功能强大且用户友好的阴极发光检测器组成,可以帮助您了解有关块状和纳米结构材料的更多信息。
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由于光子晶体(Photonic crystals)具有在小规模尺度上引导、限制和减慢光的能力,因此备受关注。它们通常由周期性排列的高折射率材料(例如硅或氮化硅)中的孔组成。通过省去一个或多个孔,可以定义高Q腔或波导。此外,通过以特定方式工程化晶体结构,可以构
造具有独特光学特性的拓扑光子绝缘体系统。阴极发光凭借其能够测量模态色散和分布并远低于衍射极限的优势,成为了研究此类系统的极具价值的工具,可用于测量晶体的(偏振敏感)能带结构以及波导和腔的模式轮廓。
广泛的阴极发光分析可用于详细研究介电光子结构的光学特性,从而获得新颖光学设计的基础知识,还可用于特定应用的(集成)电介质光子和超表面元件的表征和量化。
Riccardo Sapienza et al. "Deep-subwavelength imaging of the modal dispersion of light", Nature Materials 11, 781-787 (2012)
Riccardo Sapienza et al. "Deep-subwavelength imaging of the modal dispersion of light", Nature Materials 11, 781-787 (2012)
Toon Coenen et al. "Resonant Modes of Single Silicon Nanocavities Excited by Electron Irradiation", ACS Nano 7, 1680-1698 (2013)
Jorik van de Groep et al. "Direct imaging of hybridized eigenmodes in coupled silicon nanoparticles", Optica 3, 93-99 (2016)